2021年8月3日,Nature Communications颁发了一项针对胎盘植入谱系(placenta accreta spectrum,PAS)疾病的无创早期诊断技能(题:Circulating trophoblast cell clusters for early detection of placenta accreta spectrum disorders)。PAS疾病患者在怀胎时期会显现胎盘过分侵入子宫肌层的征象,这种疾病会导致孕产妇在临盆中去世亡,本研究效果或能帮助该病的早期诊断。
胎盘植入谱系疾病包罗侵入性胎盘、植入性胎盘、穿透性胎盘,是指怀胎时期胎盘过分侵入子宫肌层,且在临盆时无法脱落【1】。这大概会造成严峻出血,而严峻出血偶然会导致产妇去世亡【2,3】。现阶段针对PAS疾病的诊断已有多种技能本领,如血清阐发、超声诊断、以及磁共振成像,这些诊断要领固然有用,但其正确率并不敷以诊断出全部PAS病例,并且在医疗资源匮乏的地域,这些技能本领的推广应用受到了限定【4-6】。是以,研发出新型诊断技能以进步孕期PAS的诊断正确性对付保障孕产妇宁静至关紧张。
研究者对之前开辟的NanoVelcro芯片举行了优化,该芯片包罗很细的硅纳米线,外部涂有能检测轮回滋养层细胞(构成胎盘的细胞)的抗体。这些细胞会在胎盘发育历程中单个或聚拢脱落到母体血液轮回中,细胞数目的增添大概提示PAS。
图1 NanoVelcro芯片捕捉、检测单个/聚拢的轮回滋养层细胞表示图
研究者对168位妊妇举行了血检,有些妊妇被诊断患有PAS,有些被诊断为胎盘前置(胎盘笼罩宫颈内口),有些胎盘形成正常。研究中发觉,PAS组的单个和聚拢轮回滋养层细胞计数比其他两个组更高。别的,单个和聚拢轮回滋养层细胞的数目有助于在怀胎早期将PAS从前置胎盘和正常胎盘中区分出来。
图2. 临床试验设计流程图
作者指出,仍需使用更大样本开展进一步研究,但这种诊断技能有望在未来增补现有技能,进步怀胎早期诊断胎盘植入谱系疾病的正确性。本文的通讯作者为加州大学洛杉矶分校的曾宪荣、朱亚珍,西达赛奈医疗中间(Cedars-Sinai Medical Center)的Margareta D. Pisarska和深圳市人民病院的邹畅,加州大学洛杉矶分校的Yalda Afshar为文章第一作者。